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高分辨率 3D X射線顯微斷層掃描系統

類型： 影像檢測
品牌： Bruker
型號： SKYSCAN 1272
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SKYSCAN 1272 高分辨率 3D X射線顯微斷層掃描系統


SKYSCAN 1272可以對物體進行高達2.09億像素(14450x14450像素)的無損可視化成像，可以檢測到小到0.35um的物體細節。


高分辨率臺式離體X射線斷層掃描

  • 大尺寸格式11Mp CCD

  • <0.45um 像素大小@ 最大放大率

  • 75mm 最大掃描直徑@ 最低放大率

  • 自動可變采集方式(只針對主相機)

  • GPU-加速重建，Tesla GPU-處理器，公共標準PC



植物組織成像案例


圖片1.png

上圖從左至右依次為：牙簽、梧桐樹種子、牛蒡種子、牙尖


圖片2.png

上圖從左至右依次為：甜菜、紙、蒲公英種子、胡桃